Wie schon bei XPS und ToF-SIMS beschrieben, ist die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung bestimmter Oberflächenstrukturen oft äusserst wichtig um Veränderungen auf der Oberfläche auf den Grund zu gehen. Von Fall zu Fall sind aber Struktur und Morphologie wesentlich stärkere Bestandteile des zu bestimmenden Problems, zum Beispiel bei:

  • Analyse der chemischen Zusammensetzung und Topographie von Verunreinigungen, Einschlüssen oder Poren in Beschichtungen
  • Qualitäts- und Fertigungskontrolle von Waferbeschichtungen, etc.
  • Messung der Korrosions- und Temperaturbeständigkeit von verschiedensten Werkstoffen
  • Untersuchung von Wachstum und Morphologie von Kristallen sowie Oberflächenmerkmalen
  • Qualitätskontrolle und Problembehandlung bei Bruchstellen und Verschleisserscheinungen
  • Analyse von Flüssigkeitsinteraktion auf Textilien, Polymerfolien oder Kunststoffkomponenten

Deshalb verlassen wir uns nicht nur auf die Präzision von XPS und ToF-SIMS sondern nehmen dort wo es angebracht ist auch optische Mikroskopie und SEM zur Hilfe um Ihre Fragestellungen zu beantworten.