Die Oberflächenstruktur ist eine essentielle Eigenschaft eines Gegenstandes/Produkts. Deshalb ist es wichtig neben der Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der Oberflächenstruktur auch Veränderungen der Strukturen selber auf den Grund zu gehen. Von Fall zu Fall sind nämlich Oberflächenstruktur und Morphologie wesentlich stärkere Bestandteile des zu bestimmenden Problems. Deshalb sollte man sich niemals nur auf die Ergebnisse einer einzelnen Methode verlassen, sondern verschiedene Methoden miteinander kombinieren. So lässt sich auch erkennen wie einzelne Eigenschaften miteinander wechselwirken. Zum Beispiel können so Zusammenhänge zwischen Oberflächenstruktur und chemischer Zusammensetzung festgestellt werden oder auch zwischen Oberflächenstruktur und Benetzbarkeit, je nachdem was die Fragestellung erfordert.

Einige Fragen und Systeme bei denen Mikroskopie eine grosse Hilfestellung sein kann, finden Sie hier:

  • Analyse der chemischen Zusammensetzung und Topographie von Verunreinigungen, Einschlüssen oder Poren in Beschichtungen
  • Qualitäts- und Fertigungskontrolle von Waferbeschichtungen, etc.
  • Messung der Korrosions- und Temperaturbeständigkeit von verschiedensten Werkstoffen
  • Untersuchung von Wachstum und Morphologie von Kristallen sowie Oberflächenmerkmalen
  • Qualitätskontrolle und Problembehandlung bei Bruchstellen und Verschleisserscheinungen
  • Analyse von Flüssigkeitsinteraktion auf Textilien, Polymerfolien oder Kunststoffkomponenten

Deshalb verlassen wir uns nicht nur auf die Präzision von XPS und ToF-SIMS sondern nehmen dort wo es angebracht ist auch optische Mikroskopie und SEM zur Hilfe um Ihre Fragestellungen zu beantworten.