Die Schichtdicke spielt eine entscheidende Rolle für viele Prozesse und Produkte. Durch unsere Arbeit mit Polymer-Dünnfilm Beschichtungen haben wir viel Erfahrung darin gesammelt die Schichtdicke von solchen Beschichtungen zu untersuchen und in unserem Sinne zu beeinflussen. In den letzten Jahren konnten wir uns aber auch über viele andere Schichtsysteme Wissen aneignen und verwenden unsere gesamte Sachkenntnis um Sie bei der Entwicklung neuer Produkte zu unterstützen.

Neben der Schichtdicke haben bei vielen Anwendungen auch die optischen Eigenschaften einer Schicht grossen Einfluss auf das Produkt. Zum Beispiel ist für Sensoren die in einem bestimmten Wellenlängenbereich eingesetzt werden sollen, die Transparenz in diesem Wellenlängenbereich unablässig. 

Eine schnelle und unkomplizierte Bestimmung von Schichtdicke und optischen Parametern kann für verschiedenste Anwendungen von Vorteil sein:

  • Charakterisierung von Stoffen in Chemie- und Biotechnologie: Organische Materialien, SAMs, Protein-Adsorption, Bestimmung der Glasübergangstemperatur von Polymeren
  • Analyse von Halbleiterprodukten: Fotolacke, Masken, SiON, Dielektrika jeder Art,
  • Untersuchung an optischen Beschichtungen: verschiedenste Oxide, HR und AR Beschichtungen, ITO, Elektrochrome/Photochrome Gläser, etc.
  • Charakterisierung von Displaymaterialien (anorganisch oder organisch)
  • Analyse von Beschichtungen für Photovoltaic oder Datenspeicherung

Gleichzeitig durch eine Methode auf verschiedene Schichteigenschaften Zugriff zu erhalten ist der grosse Vorteil der Ellipsometrie, auf den auch wir bei der SuSoS AG setzten. Mit dieser Methode können nicht nur die Schichtdicke, sondern auch optische Eigenschaften bestimmt werden.